专利详情

专利名称	薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统
申请号	CN200820012477.1	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN201212871	公开（授权）日	2009.03.25
申请（专利权）人	中国科学院金属研究所	发明（设计）人	张广平;朱晓飞;张滨
主分类号	G01N3/38(2006.01)I	IPC主分类号	G01N3/38(2006.01)I
专利有效期	薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统至薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统	法律状态	授权
说明书摘要	本实用新型涉及一种薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统，解决常规测试系统施加载荷精度不够、试样夹持方法不当等问题。该测试系统由电磁驱动部分、试样夹持部分和测量与观察部分组成，电磁驱动部分由电源、永久磁铁、支撑弹簧、线圈和驱动杆组成，电源与线圈电连接，线圈内侧设置永久磁铁；试样夹持部分由基架和夹持在其上可自由调节的夹具组成，被测试样的一端固定在水平及高度方向可自由调节的夹具上，夹具固定在基架上，试样呈悬臂梁状态，试样的自由端卡入预先加工好的驱动杆上不同规格尺寸的凹槽中；测量与观察部分由计算机、与之相连的激光位移传感器和光学显微镜组成。本实用新型适于对各类薄膜材料的疲劳性能及疲劳裂纹扩展行为进行评价。