专利详情

专利名称	一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器
申请号	CN201210417758.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103048050A	公开（授权）日	2013.04.17
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	肖功弼;张文生
主分类号	G01J5/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01J5/00(2006.01)I
专利有效期	一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器至一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种测量目标真实温度的辐射测温方法，包括：通过三波长辐射测温仪获取三个波长对应的实测亮温Tsi、目标的近似真温T以及三个比色温度Tci，三个波长为等间隔；根据实测亮温Ts1、Ts2、Ts3以及近似真温T的数值，确定目标在三个波长下的发射率ελ１、ελ2、ελ3；根据计算出的目标在三个波长下的发射率值及近似真温T值，计算目标对应三个波长的比色温度Tci’；根据实测比色温度与计算比色温度，求得均方差之和∑ΔT2；利用改变(Δ＝1)后的近似真温的值进一步计算发射率以及比色温度值，进一步求得实测比色温度与该计算比色温度的均方差，比较两个均方差的大小，直至均方差之和最小时，即找到实际真温值T真。利用本发明的方法，可测得目标的真实温度。