专利详情

专利名称	单孔径多重成像的光学成像测距装置
申请号	CN200620047908.9	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN201043890	公开（授权）日	2008.04.02
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	阳庆国;刘立人;栾竹;刘德安;孙建锋
主分类号	G01C3/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01C3/00(2006.01)I;G01C3/08(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I
专利有效期	单孔径多重成像的光学成像测距装置至单孔径多重成像的光学成像测距装置	法律状态	授权
说明书摘要	一种单孔径多重成像的光学成像测距装置，其特征在于构成：同光轴地依次包括成像主透镜、多重成像元件、场镜和光电探测器，该光电探测器的输出端接数字图像处理器，所述的成像主透镜与多重成像元件紧贴在一起，所述的数字图像处理器用于处理由光电探测器采样的数字图像，提取物体的深度信息的数据处理软件。本实用新型只需单次成像，即可获得完备的成像，而且系统结构紧凑，易于装配，不需要复杂的相机定位和标定，测距算法简单，可快速地获得物体的深度信息。