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用于超浅结注入的离子源装置

  • 申请号:CN201110004958.4
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN102592934A
  • 公开(公开)日:2012.07.18
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 用于超浅结注入的离子源装置
申请号 CN201110004958.4 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102592934A 公开(授权)日 2012.07.18
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 刘金彪;张琦辉;宋希明;张浩;李琳;刘强;丁明正;李俊峰;赵超
主分类号 H01J37/317(2006.01)I IPC主分类号 H01J37/317(2006.01)I;H01J37/02(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I
专利有效期 用于超浅结注入的离子源装置 至用于超浅结注入的离子源装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供了一种用于超浅结注入的离子源装置,包括:起弧室;对靶溅射装置,位于所述起弧室下方;其特征在于,所述对靶溅射装置包括冷却装置,对靶材进行冷却。本发明在离子源中引入了小型对靶溅射装置,并辅以强冷却系统,为起弧室提供了足够的分子电离,有效地提高了注入的效率和可靠性。

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