一种线偏振光偏振矢量方位的测量方法及其装置
- 申请号:CN201210023242.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN102589703A
- 公开(公开)日:2012.07.18
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种线偏振光偏振矢量方位的测量方法及其装置 | ||
| 申请号 | CN201210023242.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN102589703A | 公开(授权)日 | 2012.07.18 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 李巧玲;吴易明;肖茂森;胡晓东 |
| 主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/00(2006.01)I;G02B5/30(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种线偏振光偏振矢量方位的测量方法及其装置 至一种线偏振光偏振矢量方位的测量方法及其装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供一种线偏振光偏振矢量方位的测量方法及其装置,其测量装置包括偏振器件、基准棱镜、自准直经纬仪、带动偏振器件水平转动的一维转台和沿透光轴依次设置于偏振器件出射光路上的聚光镜和光电探测器,采用电控系统指示偏振器件是否转动到消光位置;偏振器件是由三块材料参数完全相同的方解石晶体胶合而成的一体件,其中,位于中间的方解石晶体记为A,位于两侧的方解石晶体分别记为B、C;则A具有上、下通光面,B、C均为楔形且B具有下通光面、C具有上通光面;B、C分别与A形成的斜向胶合面相互平行。本发明的测量装置的检测精度可以控制在10″以内;同时具有原理简单、操作方便等优点。 | ||
交易流程
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专利 -
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