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InGaN纳米柱阵列有源区LED及其制备方法

  • 申请号:CN201110101381.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
  • 公开(公开)号:CN102201516A
  • 公开(公开)日:2011.09.28
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 InGaN纳米柱阵列有源区LED及其制备方法
申请号 CN201110101381.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102201516A 公开(授权)日 2011.09.28
申请(专利权)人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 发明(设计)人 程国胜;刘海滨
主分类号 H01L33/32(2010.01)I IPC主分类号 H01L33/32(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I;B82Y40/00(2011.01)I
专利有效期 InGaN纳米柱阵列有源区LED及其制备方法 至InGaN纳米柱阵列有源区LED及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种InGaN纳米柱阵列有源区LED及其制备方法。该LED包括依次生长在衬底上的低温GaN缓冲层、n型GaN层、有源区、p型AlGaN层和p型GaN层,所述有源区是由垂直于衬底的InGaN纳米柱阵列组成的。其制备方法包含如下步骤:将衬底放入材料生长设备中,通入Ga源和N源生长GaN低温缓冲层;升高温度,通入n型掺杂源在GaN低温缓冲层上生长n型GaN薄膜;降低温度,在n型GaN薄膜上生长垂直InGaN纳米柱阵列;升高温度,通入p型掺杂源在InGaN纳米柱阵列上生长p型掺杂AlGaN层;在p型掺杂AlGaN层上生长p型GaN层。本发明可以减弱极化场对LED发光效率的不良影响,提高出光效率,并增大有源区的体积。

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