全深度探测的频域光学相干层析成像装置
- 申请号:CN200620043657.7
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN2916623
- 公开(公开)日:2007.06.27
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 全深度探测的频域光学相干层析成像装置 | ||
申请号 | CN200620043657.7 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN2916623 | 公开(授权)日 | 2007.06.27 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 步鹏;王向朝 |
主分类号 | G01N21/45(2006.01) | IPC主分类号 | G01N21/45(2006.01);A61B5/00(2006.01) |
专利有效期 | 全深度探测的频域光学相干层析成像装置 至全深度探测的频域光学相干层析成像装置 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 一种全深度探测的频域光学相干层析成像装置,包括低相干光源,在该低相干光源的照明方向上顺次放置准直扩束器、迈克尔逊干涉仪,该迈克尔逊干涉仪的分光器将入射光分为探测臂光路和参考臂光路,参考臂光路的末端为参考反射镜,探测臂光路的末端为被测样品,被测样品放置在一个三维精密平移台上,迈克尔逊干涉仪输出端连接一光谱仪,该光谱仪通过图像采集卡和计算机连接,该装置的特点是所述的参考反射镜连接一正弦相位调制装置。本实用新型与现有技术相比具有抗环境干扰能力强,对光源波长无关和系统结构简单的优点。 |
交易流程
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专利 -
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