专利详情

专利名称	全深度探测的频域光学相干层析成像装置
申请号	CN200620043657.7	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN2916623	公开（授权）日	2007.06.27
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	步鹏;王向朝
主分类号	G01N21/45(2006.01)	IPC主分类号	G01N21/45(2006.01);A61B5/00(2006.01)
专利有效期	全深度探测的频域光学相干层析成像装置至全深度探测的频域光学相干层析成像装置	法律状态	授权
说明书摘要	一种全深度探测的频域光学相干层析成像装置，包括低相干光源，在该低相干光源的照明方向上顺次放置准直扩束器、迈克尔逊干涉仪，该迈克尔逊干涉仪的分光器将入射光分为探测臂光路和参考臂光路，参考臂光路的末端为参考反射镜，探测臂光路的末端为被测样品，被测样品放置在一个三维精密平移台上，迈克尔逊干涉仪输出端连接一光谱仪，该光谱仪通过图像采集卡和计算机连接，该装置的特点是所述的参考反射镜连接一正弦相位调制装置。本实用新型与现有技术相比具有抗环境干扰能力强，对光源波长无关和系统结构简单的优点。