专利详情

专利名称	一种浊度测量方法及装置
申请号	CN201010504164.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102445437A	公开（授权）日	2012.05.09
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	祁志美;刘桥;刘瑞鹏
主分类号	G01N21/49(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/49(2006.01)I
专利有效期	一种浊度测量方法及装置至一种浊度测量方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种浊度测量方法及装置，涉及浊度探测技术，该方法是采用一束平行光照射待测环境，并探测其光路中的多个位置的90度散射光功率，通过对探测值的数学处理，获得待测环境的浊度值。该方法的测量装置，封装为探头形式，包括壳体，平行光发射系统，光电接收系统，信号处理电路。其光路结构在任何条件下都满足90度散射探测，并可缩小装置体积。本发明消除了光源的不稳定性对测量的影响，降低了温度误差和窗口污染对浊度测量的干扰，延长了人工清洁维护周期，提高了测量精度。测量装置体积小，功耗低，灵敏度高，抗干扰能力强，符合ISO7027标准，安装调试方便，可应用于多种环境的浊度测量及智能监测。