快速测量光谱的分光光度计
- 申请号:CN200520045814.3
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN2837834
- 公开(公开)日:2006.11.15
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 快速测量光谱的分光光度计 | ||
申请号 | CN200520045814.3 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN2837834 | 公开(授权)日 | 2006.11.15 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 傅小勇;易葵;朱美萍;王丹;申雁鸣;毕军;邵建达;范正修 |
主分类号 | G01N21/25(2006.01) | IPC主分类号 | G01N21/25(2006.01);G01J3/00(2006.01) |
专利有效期 | 快速测量光谱的分光光度计 至快速测量光谱的分光光度计 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 一种快速测量光谱的分光光度计,包括一光源, 在该光源输出的主光路上,依次是分光光度系统,色轮,第三 反射镜,凹面反射镜,衍射光栅,狭缝和接收器,该接收器的 输出端接一数据处理及控制器,其特征在于:所述的光源由一 宽光谱卤钨灯、一氘灯和在光源输出光路的切换式第一半透半 反镜构成,所述的狭缝位于所述的光源和第二半透半反镜之 间,在所述的狭缝和第二半透半反镜之间还有一准直组合透 镜;所述的凹面反射镜和所述的接收系统之间还有一会聚透 镜;所述的接收器是一列阵CCD。本实用新型快速测量光谱的 分光光度计的特点是能一次测量一个波长范围的光谱,可快 速、精确的给出样品的光谱曲线,可以实现样品的实时测量。 |
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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过户资料
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