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快速测量光谱的分光光度计

  • 申请号:CN200520045814.3
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN2837834
  • 公开(公开)日:2006.11.15
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 快速测量光谱的分光光度计
申请号 CN200520045814.3 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN2837834 公开(授权)日 2006.11.15
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 傅小勇;易葵;朱美萍;王丹;申雁鸣;毕军;邵建达;范正修
主分类号 G01N21/25(2006.01) IPC主分类号 G01N21/25(2006.01);G01J3/00(2006.01)
专利有效期 快速测量光谱的分光光度计 至快速测量光谱的分光光度计 法律状态 授权
说明书摘要 一种快速测量光谱的分光光度计,包括一光源, 在该光源输出的主光路上,依次是分光光度系统,色轮,第三 反射镜,凹面反射镜,衍射光栅,狭缝和接收器,该接收器的 输出端接一数据处理及控制器,其特征在于:所述的光源由一 宽光谱卤钨灯、一氘灯和在光源输出光路的切换式第一半透半 反镜构成,所述的狭缝位于所述的光源和第二半透半反镜之 间,在所述的狭缝和第二半透半反镜之间还有一准直组合透 镜;所述的凹面反射镜和所述的接收系统之间还有一会聚透 镜;所述的接收器是一列阵CCD。本实用新型快速测量光谱的 分光光度计的特点是能一次测量一个波长范围的光谱,可快 速、精确的给出样品的光谱曲线,可以实现样品的实时测量。

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