专利详情

专利名称	半导体激光器热弛豫时间的测试装置
申请号	CN200520042281.3	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN2828834	公开（授权）日	2006.10.18
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	陈晨;辛国锋;方祖捷
主分类号	G01R31/26(2006.01)	IPC主分类号	G01R31/26(2006.01);H01L21/66(2006.01)
专利有效期	半导体激光器热弛豫时间的测试装置至半导体激光器热弛豫时间的测试装置	法律状态	授权
说明书摘要	一种半导体激光器热弛豫时间的测试装置，该装置的构成是：一脉冲电源，该脉冲电源的输出端接半导体激光器，沿该半导体激光器的激光前进方向依次是准直系统和光谱仪，光电倍增管位于所述的光谱仪的输出狭缝，光电倍增管的输出端接Boxcar积分器的输入端，所述的脉冲电源的同步输出端经过延时电路连接Boxcar积分器的触发输入端，计算机输入端数据采集卡连接Boxcar积分器输出端。本实用新型的优点是：不需测试激光器阈值电流和斜率效率随结温的变化关系；装置造价低，容易搭建，方法简单、稳定性好。