整流柜的动稳定性试验电路
- 申请号:CN201110027437.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院等离子体物理研究所
- 公开(公开)号:CN102175543A
- 公开(公开)日:2011.09.07
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 整流柜的动稳定性试验电路 | ||
| 申请号 | CN201110027437.0 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN102175543A | 公开(授权)日 | 2011.09.07 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 发明(设计)人 | 李金超;傅鹏;宋执权;陈鹏 |
| 主分类号 | G01N3/38(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N3/38(2006.01)I |
| 专利有效期 | 整流柜的动稳定性试验电路 至整流柜的动稳定性试验电路 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种整流柜的动稳定性试验电路,包括从直流测试电源的正、负极接线端引出的两根接线,其特征在于:从直流测试电源的正极接线端引出的连接线接至桥臂D6,从直流测试电源的负极接线端引出的连接线分别接至并联的桥臂D1、D5,三个桥臂D6,D1,D5的末端汇于一处;所述的桥臂D1、D5、D6均由多组并联支路组成,每组并联支路均由电感和电阻相串联组成。本发明电路简单、可靠,成本低,能真实模拟整流器短路条件下最恶劣的电动力分布情况,等效验证了整流柜的动稳定特性,且桥臂短路电流的方向是确定的,不存在反向故障电流,提高了电路的安全性;在试验过程中不易发生损坏半导体器件的现象,提高了试验的安全性。 | ||
交易流程
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