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基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪

  • 申请号:CN201110028388.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 公开(公开)号:CN102175324A
  • 公开(公开)日:2011.09.07
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪
申请号 CN201110028388.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102175324A 公开(授权)日 2011.09.07
申请(专利权)人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明(设计)人 郝鹏;吴一辉;黎海文
主分类号 G01J3/44(2006.01)I IPC主分类号 G01J3/44(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I
专利有效期 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪 至基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪属于光谱分析仪器领域,该光谱仪包括光学平台和光信号采集处理装置两部分,其特征在于,光学平台采用多通道面阵探测器,在其中某一通道的窗口上,通过图形化镀膜的方法,加工形成沿光谱分布方向分布的若干个带阻滤光片,进行实时测量探测器各个区域所接收到的杂散光变化情况,利用此通道作为参考通道,实现对整个光谱分析仪杂散光的实时有效校正。本发明有效的校正了光谱分析系统全波段范围内的测量杂散光,可应用于待测样品光谱特征、吸光度值等各光色参数的测量方面。

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