超快时间分辨X射线谱仪
- 申请号：CN200520041252.5
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN2783319
- 公开(公开)日：2006.05.24
- 法律状态：授权
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专利详情
| 专利名称 | 超快时间分辨X射线谱仪 | ||
| 申请号 | CN200520041252.5 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN2783319 | 公开（授权）日 | 2006.05.24 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陈建文;高鸿奕;李儒新;朱化凤;干慧倩;徐至展 |
| 主分类号 | G01N23/00(2006.01) | IPC主分类号 | G01N23/00(2006.01) |
| 专利有效期 | 超快时间分辨X射线谱仪 至超快时间分辨X射线谱仪 | 法律状态 | 授权 |
| 说明书摘要 | 一种超快时间分辨X射线谱仪，包括飞秒激光 器，其特征是在所述的飞秒激光器的激光输出光路上安置一分 束器，该分束器的反射光经由光学延迟线到达样品，构成对样 品的作用光束，在该分束器的透射光经全反射镜入射在光阴极 X射线二极管上，该光阴极X射线二极管产生的X射线入射 到样品上，探测作用光束产生瞬态结构变化的过程，然后入射 在硅单晶上，产生的光谱色散被探测器接收，显示在计算机上。 本实用新型可用来研究待测样品的瞬态结构变化导致的光谱 变化。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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平台保障
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