专利详情

专利名称	一种使用双列直插封装芯片的电路板的调试装置
申请号	CN200420122525.4	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN2760568	公开（授权）日	2006.02.22
申请（专利权）人	中国科学院空间科学与应用研究中心	发明（设计）人	曹松;陈斌;沈卫华;陈小敏;孙辉先
主分类号	G01R31/00(2006.01)	IPC主分类号	G01R31/00(2006.01);G01R31/28(2006.01)
专利有效期	一种使用双列直插封装芯片的电路板的调试装置至一种使用双列直插封装芯片的电路板的调试装置	法律状态	授权
说明书摘要	本实用新型涉及一种使用双列直插封装芯片的电路板的调试装置，包括固定插针插座，插针和活动插针插座；所述固定插针插座为通用的双列直插插座，所述活动插针插座有可拔出的插针，所述固定插针插座的插针上有供双列直插封装的集成电路芯片插入的插孔。测量时，拔出的插针的管脚悬空，且不与固定插座接触，电路阻断，所以应用该装置，无论是对集成电路芯片还是印刷电路板都没有破坏，从而提高了电路板的调试效果，避免了由于调试引入的对芯片或电路板的破坏，减少了多次制板的费用；并可以准确定位故障发生的位置；此外，悬空的芯片管脚易于示波器和逻辑分析仪的探头固定，利于测量。