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一种半导体结构及其制备方法

  • 申请号:CN201010215167.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN102299178A
  • 公开(公开)日:2011.12.28
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种半导体结构及其制备方法
申请号 CN201010215167.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102299178A 公开(授权)日 2011.12.28
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 梁擎擎;刘洪刚;朱慧珑;钟汇才
主分类号 H01L29/78(2006.01)I IPC主分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I
专利有效期 一种半导体结构及其制备方法 至一种半导体结构及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提出了一种半导体结构,包括:衬底;形成在所述衬底之上的源区和漏区;形成在所述衬底之上的栅极接触区;和形成在所述衬底之上位于所述源区和漏区之间的堆叠结构,所述堆叠结构包括至少一个单元,所述单元包括第一栅极、第二栅极以及形成在所述第一栅极和第二栅极之间的沟道。通过这种堆叠型FET器件的结构,能够有效缩小器件尺寸,增强沟道控制能力,使低能耗高速度的22nm及以下的新一代VLSI技术得以实现。

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