专利详情

专利名称	二维扫描型光学质量检测装置
申请号	CN200420110960.5	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN2748898	公开（授权）日	2005.12.28
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	黄惠杰;闫岩;刘丹;任冰强;赵永凯;黄立华;张维新
主分类号	G01M11/02	IPC主分类号	G01M11/02
专利有效期	二维扫描型光学质量检测装置至二维扫描型光学质量检测装置	法律状态	授权
说明书摘要	一种用于透镜光学质量检测的二维扫描型光学质量检测装置，由照明系统、光束扫描机构、被检透镜、图像接受系统以及系统控制与数据处理软件组成，其特征在于：所述的照明系统是一输出光束口径可调的准直光源；所述的光束扫描机构由圆形屏、第一步进电机、一维电动调整架和支架组成；所述的图像接受系统包括CCD摄像机、导轨、第二步进电机、支架和计算机，所述的计算机与第一步进电机、第二步进电机、第三步进电机和CCD摄像机通过信号线相连。本实用新型能对被检透镜进行全面检测，可以得到被检透镜的局部误差。采样光束口径大小可以随意调节。检测波长可变。减小了照明系统的设计与加工难度，提高了检测的效率，实现了哈特曼光阑检测法的智能化和数字化。