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双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置

  • 申请号:CN200420090577.8
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN2727699
  • 公开(公开)日:2005.09.21
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置
申请号 CN200420090577.8 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN2727699 公开(授权)日 2005.09.21
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 程兆谷;高海军
主分类号 G01B9/02 IPC主分类号 G01B9/02;G01B11/02;G01P3/36
专利有效期 双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置 至双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置 法律状态 授权
说明书摘要 一种双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量 装置,包括一双频激光器,在该激光器的输出光路上设置一偏 振分光镜,该偏振分光镜的分光面与激光器的输出光路成45 °,在该偏振分光镜透射光方向是一固定角锥棱镜,反射光方 向是一移动角锥棱镜,在该偏振分光镜的输出光方向、双频激 光器的同侧还有一探测器,其特征在于所述的移动角锥棱镜通 过其镜座固定在一滑块上,该滑块设置在导轨上,该导轨安装 在导轨底座上并与重力方向严格一致。本实用新型装置对双频 激光干涉仪测量速度测量具有较好的准确性、测量速度范围 大、测量装置简单、方法简便和经济等一系列优点。

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