光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置
- 申请号：CN200320122433.1
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN2674418
- 公开(公开)日：2005.01.26
- 法律状态：授权
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专利详情
| 专利名称 | 光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置 | ||
| 申请号 | CN200320122433.1 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN2674418 | 公开（授权）日 | 2005.01.26 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 方祖捷;瞿荣辉;蔡海文;李琳 |
| 主分类号 | G01J9/02 | IPC主分类号 | G01J9/02;G01J3/45 |
| 专利有效期 | 光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置 至光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置 | 法律状态 | 授权 |
| 说明书摘要 | 一种光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置，本 实用新型光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量装置，其特征在 于包括一四端光纤耦合器，其第一端口经一光隔离器与一可调 谐激光器的输出端相连，第二端口接待测光纤光栅，第三端口 经光纤调相器接反射式可变延时器，第四端口接光信号接收 器。利用本实用新型光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量装置 进行光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量的方法具有简单方 便，成本低廉，适用面较广等优点。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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