基于F-P板正弦相位调制的高精度角位移测量装置
- 申请号:CN03209960.6
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN2655175
- 公开(公开)日:2004.11.10
- 法律状态:授权
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 基于F-P板正弦相位调制的高精度角位移测量装置 | ||
申请号 | CN03209960.6 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN2655175 | 公开(授权)日 | 2004.11.10 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 张彩妮;王向朝 |
主分类号 | G01B11/26 | IPC主分类号 | G01B11/26;G01B9/02;H01S5/00;H01L33/00 |
专利有效期 | 基于F-P板正弦相位调制的高精度角位移测量装置 至基于F-P板正弦相位调制的高精度角位移测量装置 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 一种基于F-P板正弦相位调制的高精度角位移 测量装置,它包含有带驱动电源的调制光源,沿着该调制光源 发出的光束的前进方向上置有光束准直物镜和反射镜,在反射 镜的反射光束的前进方向上置有待测物体,在该待测物体反射 光的前进方向上置有F-P板和分束镜,该分束镜的端口b透 射光束方向上置有透镜和光电转换元件,该光电转换元件与连 接计算机的模数转换元件相连,在该分束镜的端口c反射光束 方向上置有CCD图像探测器,该CCD图像探测器与连接计算 机的模数转换元件相连。 |
交易流程
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选取所需
专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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确认变更
成功 - 06 支付尾款
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