具有二次台面包裹电极的AlGaN紫外探测器
- 申请号:CN201120142481.1
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号:CN202134542U
- 公开(公开)日:2012.02.01
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 具有二次台面包裹电极的AlGaN紫外探测器 | ||
申请号 | CN201120142481.1 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN202134542U | 公开(授权)日 | 2012.02.01 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 李超;李向阳;许金通;刘福浩;张燕;刘向阳;乔辉 |
主分类号 | H01L31/0304(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L31/0304(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/101(2006.01)I |
专利有效期 | 具有二次台面包裹电极的AlGaN紫外探测器 至具有二次台面包裹电极的AlGaN紫外探测器 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 本实用新型公开一种具有二次台面包裹电极的AlGaN紫外探测器器件,其结构为在衬底上依次生长,缓冲层、n型薄膜层、本征薄膜层、p型薄膜层和p型帽层,将p型帽层和部分p型薄膜层刻蚀形成p型微台面,该p型微台面为方形或圆形;沉积p包裹型欧姆电极,该p包裹型欧姆电极为方形或圆形,将p型微台面包裹起来,边缘落于p型微台面下p型薄膜层表面;将p型薄膜层和本征薄膜层刻蚀形成器件台面,该器件台面为方形或圆形,边长或半径大于p型微台面边长或半径20-100μm;沉积环形或长条形n型欧姆电极。本器件的结构有利于提高器件的外量子效率、响应抑制比和灵敏度,器件暗电流也得到进一步的降低。 |
交易流程
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专利 -
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