专利详情

专利名称	一种基于压缩感知的电磁逆散射成像方法
申请号	CN201110253480.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102955159A	公开（授权）日	2013.03.06
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	向寅;李芳;洪文;张冰尘;吴一戎
主分类号	G01S17/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01S17/02(2006.01)I
专利有效期	一种基于压缩感知的电磁逆散射成像方法至一种基于压缩感知的电磁逆散射成像方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于压缩感知的电磁逆散射成像方法，涉及微波成像技术，包括：步骤一、微波激励与测量阶段，在目标外用微波对目标进行穿透照射，测量目标的散射回波，从而去感知目标内部结构和材质；步骤二、目标建模阶段，建立目标介电常数和散射回波间的非线性观测模型，建立描述目标内部结构稀疏性的表征模型；步骤三、计算成像阶段，使用目标模型和压缩感知处理方法对目标的介电常数分布成像，由于不同介电常数对应目标的不同组成材料，故成像结果作为目标内部结构的表征。相对于传统微波成像方法，本发明使用压缩感知处理技术，显著降低回波观测数据量，同时显著提高目标内部结构的成像清晰度。