专利详情

专利名称	双调制光源全光纤位移测量仪
申请号	CN01253677.6	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN2506975	公开（授权）日	2002.08.21
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	王向朝;步扬;王学锋
主分类号	G01B9/02	IPC主分类号	G01B9/02
专利有效期	双调制光源全光纤位移测量仪至双调制光源全光纤位移测量仪	法律状态	授权
说明书摘要	一种双调制光源全光纤位移测量仪,包括两个被调制的原光源。两原光源发射的调制光束经过全光纤连接的三个环形器和两个光纤耦合器分别到达参考反射元件和被测物体。由参考反射元件和被测物体反射回来的光束在光纤耦合器中产生干涉。光电转换元件将接收到的干涉信号转换为电信号, 一路经过数模转换器送到计算机。另一路经过反馈控制电路分别送到第一驱动电源和第二驱动电源。本实用新型与在先技术相比,本实用新型采用了光热光频调制,采用了全光纤代替在先技术中的透镜、分束器等光学元件,所以,本实用新型体积小,重量轻,结构紧凑,抗干扰能力强,测量精度高,测量范围由在先技术的数百纳米扩大到厘米量级。