专利详情

专利名称	一种光子晶体减慢光速效应的测量方法及测量装置
申请号	CN200610113328.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101149289	公开（授权）日	2008.03.26
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	郑婉华;任刚;邢名欣;王科;杜晓宇;陈良惠
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I
专利有效期	一种光子晶体减慢光速效应的测量方法及测量装置至一种光子晶体减慢光速效应的测量方法及测量装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种光子晶体减慢光速效应的测量方法及测量装置。该方法包括如下步骤：1)在半导体芯片上依次放置一二维半导体光子晶体激光器和一二维半导体光子晶体波导；2)所述激光器产生边发射激光，激光与光子晶体波导耦合；3)激光腔中产生空间烧孔效应，出射多模振荡激光；4)用光纤将出射激光耦合入光栅光谱仪；5)通过分析光谱特征，测得光速减慢信息。该装置包括：一二维半导体光子晶体激光器；一用于泵浦所述激光器的泵浦源；一二维半导体光子晶体波导与所述激光器依次设置在半导体芯片上，所述波导的区域与所述激光器的输出激光场有交叠，使激光与波导耦合；一光纤连接于所述波导与一光栅光谱仪之间。本发明实施简便，成本低。