专利详情

专利名称	用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法
申请号	CN200710176882.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101162294	公开（授权）日	2008.04.16
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	敖明武;杨平;蔡冬梅;杨泽平;饶长辉;姜文汉
主分类号	G02B26/06(2006.01)I	IPC主分类号	G02B26/06(2006.01)I
专利有效期	用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法至用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	用于惯性约束聚变装置的全光路像差的测量和校正方法，将哈特曼波前传感器放置在激光放大器之后的光路中探测近场波前，将反射变形镜放置在哈特曼波前传感器之前的光路中，将CCD放置在全光路远场，以探测焦斑强度分布，动态像差由哈特曼波前传感器直接测量，静态相差由反射变形镜、哈特曼波前传感器和远场CCD相互配合共同测量，当驱动反射变形镜，哈特曼波前传感器记录下变形镜调制的不同波前，同时远场CCD记录下相应的远场强度；根据记录下的不同近场调制波前和相应的远场强度数据对，利用迭代算法计算出惯性约束聚变装置全光路静态像差，驱动反射变形镜将该像差校正。本发明实现了 ICF装置全光路像差的测量和校正。