
声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置
- 申请号:CN201020269873.X
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号:CN201749021U
- 公开(公开)日:2011.02.16
- 法律状态:授权
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置 | ||
申请号 | CN201020269873.X | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN201749021U | 公开(授权)日 | 2011.02.16 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 沈渊婷;杨世骥;何志平;袁立银;王建宇;舒嵘 |
主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
专利有效期 | 声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置 至声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 本实用新型公开了一种声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置。该装置由单色光源系统、光信号调制系统、光学系统及光电探测系统组成。单色光源系统可生成波长连续可调的单色光束,通过光阑孔后由斩光器对其进行频率调制,交流光信号依次经由准直镜、起偏器、滤光片形成单波长准直偏振光,并垂直入射AOTF;由棱镜将会聚后的0级光及驱动后产生的衍射光折转不同方向,分别由两个光电探测器接收,从而分析AOTF的衍射性能。本发明装置原理简单、可操作性强,可满足AOTF测试连续波长的需求,同时通过自动控制软件可大幅提高测试效率。针对AOTF在弱光下的应用需求,利用锁相电路实现弱光条件检测,提高测试精度。该系统实现0级光和衍射光的独立测试,提高测试准确性。 |
交易流程
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