专利详情

专利名称	一种超导线圈失超检测方法
申请号	CN200710175335.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101126787	公开（授权）日	2008.02.20
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	张正臣;李晓航
主分类号	G01R31/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/00(2006.01)I;G01K7/18(2006.01)I
专利有效期	一种超导线圈失超检测方法至一种超导线圈失超检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种超导线圈失超检测方法，其特征在于实时监测超导线圈绕组的温度，把时间上前后相邻的温度的差值除以温度监测时间间隔，得到失超检测量——温升速率，把温升速率与温升速率阈值进行比较，一旦超过温升速率阈值，即可判断线圈失超。温升速率阈值的确定方法是同时监测超导线圈失超过程中失超点附近的电压和温度，并把温度转化为温升速率，当电压升高到1μV/cm时，线圈失超，此刻失超点两侧的温升速率的平均值即为温升速率阈值。本发明更接近物理现象的本质，检测速度快、灵敏度高，适用于低温超导(NbTi、 Nb₃Sn、MgB₂)线圈和高温超导(Bi2223、YBCO)线圈。