
四分之一波片相位延迟量分布实时测量装置和测量方法
- 申请号:CN201110371987.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN102507158A
- 公开(公开)日:2012.06.20
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 四分之一波片相位延迟量分布实时测量装置和测量方法 | ||
申请号 | CN201110371987.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102507158A | 公开(授权)日 | 2012.06.20 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 曾爱军;刘龙海;袁乔;郑乐行;黄惠杰 |
主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
专利有效期 | 四分之一波片相位延迟量分布实时测量装置和测量方法 至四分之一波片相位延迟量分布实时测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种四分之一波片相位延迟量分布实时测量装置和测量方法,装置的构成包括准直光源,沿所述的准直光源发出的光束前进方向上,依次是圆起偏器、标准四分之一波片、渥拉斯顿棱镜和图像传感器,该图像传感器的输出端接计算机,所述的渥拉斯顿棱镜的两个透振方向分别与所述的标准四分之一波片的快轴方向成45°和135°夹角,在所述的圆起偏器和标准四分之一波片之间设置待测波片的插口。本发明通过反余弦函数得到待测波片的相位延迟量分布,测量精度高。使用渥拉斯顿棱镜检偏,两个透振方向严格垂直,不存在透振方向误差影响测量精度的问题。具有简单结构的特点。 |
交易流程
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