全光场偏振像差检测装置及检测方法
- 申请号：CN201210091180.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN102607819A
- 公开(公开)日：2012.07.25
- 法律状态：实质审查的生效
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 全光场偏振像差检测装置及检测方法 | ||
| 申请号 | CN201210091180.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102607819A | 公开（授权）日 | 2012.07.25 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曹绍谦;步扬;步鹏;王向朝;张敏;汤飞龙;李中梁 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 全光场偏振像差检测装置及检测方法 至全光场偏振像差检测装置及检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种全光场偏振像差检测装置及检测方法。该装置包括：全偏振态发生器PSG、全偏振态分析器PSA及信号处理和控制系统。该检测方法包括：改变法拉第旋转器上加载偏控电压的大小，进行第一次测量；改变法拉第旋转器上加载偏控电压的大小，进行第二、三、四次测量；根据算法对四次测量结果进行处理。本发明具有装置结构简单、共光轴且稳定、测量无需机械转动、算法简单、高空间分辨率且测量速度较快的特点。 | ||
交易流程
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专利 -
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