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一种检测大口径光学系统波前的装置

  • 申请号:CN201110344363.3
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
  • 公开(公开)号:CN102507155A
  • 公开(公开)日:2012.06.20
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种检测大口径光学系统波前的装置
申请号 CN201110344363.3 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102507155A 公开(授权)日 2012.06.20
申请(专利权)人 中国科学院光电技术研究所 发明(设计)人 汪利华;杨伟
主分类号 G01M11/02(2006.01)I IPC主分类号 G01M11/02(2006.01)I
专利有效期 一种检测大口径光学系统波前的装置 至一种检测大口径光学系统波前的装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明是一种大口径光学系统波前的检测装置,包括干涉仪、五维调整台、数控转台、数控电动位移台、标准自准直平面镜、二维调整架、计算机控制和数据处理系统,其特点在于:将大口径光学系统波前划分成多个子孔径波前,由干涉仪和标准自准直平面镜检测大口径光学系统的子孔径波前,通过数控转台和数控电动位移台控制标准平面镜运动,对子孔径进行扫描,并由干涉仪检测记录子孔径波前,使检测的子孔径波前覆盖整个大口径光学系统,由计算机控制和数据处理系统通过算法将子孔径波前拼接,得到大口径光学系统全孔径波前,完成对大口径光学系统波前检测。本发明结构简单、成本低,能检测≥1000mm的大口径光学系统波前像质。

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