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实时探测单电子自旋态的方法

  • 申请号:CN200710045701.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN101118607
  • 公开(公开)日:2008.02.06
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 实时探测单电子自旋态的方法
申请号 CN200710045701.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101118607 公开(授权)日 2008.02.06
申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 伍滨和;曹俊诚
主分类号 G06N1/00(2006.01)I IPC主分类号 G06N1/00(2006.01)I
专利有效期 实时探测单电子自旋态的方法 至实时探测单电子自旋态的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及了一种实时探测单电子自旋态的方法。当量子点能级由于外 磁场而发生Zeeman分裂或与电极间的隧穿速率与自旋有关时,单个电子所 携带的自旋信息就与其通过该量子点时在量子点上的留滞时间联系起来。通 过设计合适的单电子探测器件并调节该器件的噪声水平,能够分辨出该电子 的自旋状态。预期该器件能够以较高的频率进行工作,所以能给出量子点上 自旋态的实时信息。该装置在量子信息处理等方面有重要的潜在应用。所需 要的条件完全能在当前实验条件下予以实现。

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