
一种导电通道可控性形成的阻变式存储器及其制备方法
- 申请号:CN201210104177.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院物理研究所
- 公开(公开)号:CN102623637A
- 公开(公开)日:2012.08.01
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种导电通道可控性形成的阻变式存储器及其制备方法 | ||
申请号 | CN201210104177.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102623637A | 公开(授权)日 | 2012.08.01 |
申请(专利权)人 | 中国科学院物理研究所 | 发明(设计)人 | 张玉;李洁;陈莺飞;王宁;邓辉;吴玉林;赵璐;郑国林;崔丽敏;郭乃理;蒋凤英;金贻荣;田海燕;郑东宁 |
主分类号 | H01L45/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L45/00(2006.01)I |
专利有效期 | 一种导电通道可控性形成的阻变式存储器及其制备方法 至一种导电通道可控性形成的阻变式存储器及其制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种导电通道可控性形成的阻变式存储器的制备方法包括以下步骤:1)制备氧化物薄膜,在基片上沉积设定厚度的氧化物薄膜;2)对氧化物薄膜进行离子辐照:入射的离子束沿垂直方向穿透所述氧化物薄膜到达所述基片中,并在氧化物薄膜中形成若干条导电通道;3)制备顶电极:在经过所述离子辐照后的氧化物薄膜的上表面上制备顶电极。本发明还包括通过上述方法制成的阻变式存储器。 |
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