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饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置

  • 申请号:CN201210517745.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN102983492A
  • 公开(公开)日:2013.03.20
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置
申请号 CN201210517745.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102983492A 公开(授权)日 2013.03.20
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 崔国栋;李晓林;钱军;王育竹
主分类号 H01S3/137(2006.01)I IPC主分类号 H01S3/137(2006.01)I
专利有效期 饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置 至饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置,包括λ/2波片、第一偏振分束棱镜、第一全反射镜、第二全反射镜、第三全反射镜、第二偏振分束棱镜、λ/4波片、样品池和探测器,本发明使泵浦光和探测光的光束基本完全重合,可以获得更高的信噪比;整个系统的空间尺度只受到光学器件和样品池大小的限制,光路安排更加紧凑、灵活,使我们可以观测到原子分子的精细能级结构的谱线。

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