专利详情

专利名称	遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP方法
申请号	CN200610012047.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101083507	公开（授权）日	2007.12.05
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	吴斌;周玉梅;黑勇
主分类号	H04B17/00(2006.01)	IPC主分类号	H04B17/00(2006.01);H04L12/26(2006.01);H04L29/06(2006.01);H04M3/22(2006.01);G01R31/28(2006.01);G01R31/303(2006.01)
专利有效期	遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP方法至遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP方法	法律状态	授权
说明书摘要	本发明涉及超大规模集成电路技术领域，是一种遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP的设计方法。根据IEEE1149.1协议对JTAG电路的规范要求，设计一个完整的测试IP体系结构，测试IP包括一套参数化的标准测试控制逻辑库，可扩展测试逻辑功能库，可配置IO逻辑功能库，并设计自动测试矢量库，所设计的参数化功能库和所提出的参数化配置方法，实现对符合IEEE1149.1协议的不同ASIC电路进行相关基本和扩展功能测试。本发明方法对遵循IEEE1149.1协议的ASIC电路进行测试具有测试成本低廉，使用维护方便，测试对象广泛，辅助分析透明直观等特点，具有良好的推广和使用价值。