专利详情

专利名称	高通量多参数图像表面等离子体谐振测试仪
申请号	CN200610066542.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101046446	公开（授权）日	2007.10.03
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	崔大付;蔡浩原;王军波;李亚亭;梁金庆;刘长春;王于杰;郑自攀
主分类号	G01N21/55(2006.01)	IPC主分类号	G01N21/55(2006.01)
专利有效期	高通量多参数图像表面等离子体谐振测试仪至高通量多参数图像表面等离子体谐振测试仪	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种高通量多参数图像表面等离子体谐振测试仪，涉及检测技术，为立式菱形杠杆同步扫描结构；在正三角形光学棱镜的水平上平面上，设有阵列表面等离子体谐振芯片和微测量池，两者水平叠置，微测量池在谐振芯片上方，微测量池由输入管和输出管与自动进样系统连通；微测量池中设有至少一条通道流通池；光学系统、机械扫描系统、数据采集系统、自动进样系统分别与嵌入式微控制器电连接，微控制器与计算机相连，计算机预装信息采集处理软件和系统操作控制软件，操控测试仪，可进行机械运动扫描角度调制，或固定夹角内角度调制，或定点监测光强变化等三种工作模式测试；并采用图像采集信号，配以全自动采样进样系统，实现多参数定量测试，高通量检测。