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高速率半导体光发射组件的封装结构及方法

  • 申请号:CN200610003069.5
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN101017956
  • 公开(公开)日:2007.08.15
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 高速率半导体光发射组件的封装结构及方法
申请号 CN200610003069.5 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101017956 公开(授权)日 2007.08.15
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 吴德馨;杨成樾;李宝霞
主分类号 H01S5/026(2006.01) IPC主分类号 H01S5/026(2006.01);H01S5/022(2006.01);H01S5/024(2006.01);H01S5/00(2006.01);H01L25/00(2006.01);H01L23/00(2006.01);H01L21/50(2006.01);G02B6/00(2006.01);H04B10/02(2006.01)
专利有效期 高速率半导体光发射组件的封装结构及方法 至高速率半导体光发射组件的封装结构及方法 法律状态 授权
说明书摘要 本发明主要涉及光纤通信领域,特别是一种高速率半导体光发射组件的封装结构及方法。结构包括;带有射频连接头的蝶形管壳、半导体致冷器、KOVAR金属热沉、介质热沉基片、光发射器件、热敏电阻、背光检测探测器、用互连金丝连接直流接线电极和管壳引脚,用金丝或金带连接介 质热沉基片和介质基片上的共面波导传输线,以及光学耦合组件。方法包括:直流端口在管壳外部采用等间距排列的BTF标准封装形式;高频端口采用射频连接头;光学组件部分采用的是分离式调整;还具有热敏电阻和背光探测器便于监视半导体激光器的工作状态;带有半导体致冷器,用于对光发射芯片的工作温度进行控制。

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