
一种高分辨率自支撑全镂空透射光栅的制作方法
- 申请号:CN200610003067.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN101017214
- 公开(公开)日:2007.08.15
- 法律状态:授权
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 一种高分辨率自支撑全镂空透射光栅的制作方法 | ||
申请号 | CN200610003067.6 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101017214 | 公开(授权)日 | 2007.08.15 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 谢常青;叶甜春 |
主分类号 | G02B5/18(2006.01) | IPC主分类号 | G02B5/18(2006.01);G03F7/20(2006.01);G03F7/26(2006.01) |
专利有效期 | 一种高分辨率自支撑全镂空透射光栅的制作方法 至一种高分辨率自支撑全镂空透射光栅的制作方法 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 一种X射线衍射光学元件—高分辨率自支撑全镂空透射光栅的制作方法,步骤如下:1.在自支撑X射线掩模衬基上淀积薄铬薄金层;2.在薄铬薄金层表面上甩电子束光刻胶,得到光栅图形;3.所得片子放在电镀液中电镀出X射线掩模吸收体金图形;4.所得片子去除电子束光刻胶;5.再去除电子束光刻胶图形下的薄铬薄金层;6.玻璃上旋涂聚酰亚胺,并固化;7.在聚酰亚胺表面上淀积金;8.在金表面旋涂X射线光刻胶,完成的高分辨率光栅X射线掩模进行X射线光刻并显影;9.对X射线光刻后的片子进行金去除;10.去除聚酰亚胺;11.去除X射线光刻胶;12.背面腐蚀透玻璃;完成高分辨率自支撑全镂空透射光栅的制作。 |
交易流程
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01
选取所需
专利 -
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确认专利
可交易 - 03 签订合同
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