
一种环氧塑封料及其制备方法
- 申请号:CN200510117711.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院化学研究所
- 公开(公开)号:CN1962752
- 公开(公开)日:2007.05.16
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种环氧塑封料及其制备方法 | ||
申请号 | CN200510117711.8 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN1962752 | 公开(授权)日 | 2007.05.16 |
申请(专利权)人 | 中国科学院化学研究所 | 发明(设计)人 | 杨士勇;范琳;丁佳培;陶志强 |
主分类号 | C08L61/06(2006.01) | IPC主分类号 | C08L61/06(2006.01);C08L63/00(2006.01);C09K3/10(2006.01);C08K5/57(2006.01) |
专利有效期 | 一种环氧塑封料及其制备方法 至一种环氧塑封料及其制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种环氧塑封料及其制备方法。本 发明所提供的环氧塑封料,含有如下重量分数比的组份:式IA 或式IB的酚醛树脂1-150,式IIA或式IIB的酚醛环氧树脂1 -100,含氟酚醛树脂1-150,含氟酚醛环氧树脂1-100,固 化剂1-20,填料50-1000。本发明环氧塑封料通过引入含氟 原子基团的环氧树脂和酚醛树脂,加入固化剂和填料等组分经 过固化成型后,具有本征型阻燃性能,在不添加任何阻燃剂的 情况下经过ASTM UL94阻燃性测试,能达到V-0级的阻燃 水平,同时由于氟原子的引入,使得该环氧塑封料具有吸水率 低、介电常数低、介电损耗低、耐热性能优良等优点,可广泛 应用于封装半导体分立器件、集成电路(IC)、超大规模集成电 路(VLSI)等领域。 |
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