专利详情

专利名称	一种平面叶片面积无损测量系统及其方法
申请号	CN200510086647.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1952599	公开（授权）日	2007.04.25
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	滕军;胡包钢
主分类号	G01B21/28(2006.01)	IPC主分类号	G01B21/28(2006.01);G01B11/28(2006.01)
专利有效期	一种平面叶片面积无损测量系统及其方法至一种平面叶片面积无损测量系统及其方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及平面面积测量技术领域，特别是一种使用单幅图像，进行平面叶片面积无损测量的系统及其方法。系统包括：图像采集单元，图像校正单元，叶片图像分割单元，叶片面积计算单元。方法包括：通过图像采集单元得到附着在标定板上的平面叶片图像；图像校正单元根据图像和标定板上的同名点，计算出图像上的像素和实际物体的射影对应关系，并且对图像进行正射校正；叶片图像分割单元将叶片的图像从背景中分离出来；叶片面积计算单元根据射影对应关系，计算出正射校正后的叶片图像的面积。