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一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法

  • 申请号:CN200610089150.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
  • 公开(公开)号:CN1904665
  • 公开(公开)日:2007.01.31
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法
申请号 CN200610089150.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN1904665 公开(授权)日 2007.01.31
申请(专利权)人 中国科学院光电技术研究所 发明(设计)人 胡诗杰;许冰;陈善球
主分类号 G02B27/00(2006.01) IPC主分类号 G02B27/00(2006.01);G01J9/00(2006.01)
专利有效期 一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法 至一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标 定方法,其特征在于:在全光路像差校正自适应光学系统工作 光路条件下,从共孔径分光镜前引入平行光,该平行光透过共 孔径分光镜,经后向反射器阵列反射回共孔径分光镜,再经共 孔径分光镜反射至共模波前传感器,同时标定共模波前传感器 包含的两套波前传感器。本发明对标定光源的平行度要求较 低,而且可以避免搬动设备带来的风险,节约了成本,减少了 工作量。

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