专利详情

专利名称	相变存储器器件单元测试系统及测试方法
申请号	CN200610028229.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1905077	公开（授权）日	2007.01.31
申请（专利权）人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	发明（设计）人	宋志棠;刘波;梁爽;陈小刚;封松林
主分类号	G11C29/56(2006.01)	IPC主分类号	G11C29/56(2006.01)
专利有效期	相变存储器器件单元测试系统及测试方法至相变存储器器件单元测试系统及测试方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种相变存储器器件单元的测试系统及测试方法，其特征在于所述的测试系统是由控制计算机、脉冲信号发生器、数字信号源、微控探针台和转换连接部件组成；其中，通过通用接口总线使主控计算机与脉冲信号发生器和数字信号源相连；通过控制卡的控制电缆使脉冲信号发生器和数字信号源与微控探针台相连；主控计算机通过控制于控制探针台在脉冲信号发生器和数字信号源之间切换；微控探针台的两个探针分别与相变存储器的上、下电极接触，构成一个存储单元，并通过操作模块进行电流－电压、电压－电流、电阻与写脉高、电阻与写脉宽、电阻与擦脉高、电阻与擦脉宽以及疲劳等七种测试。