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多样品霍尔效应测试设备

  • 申请号:CN200610027355.5
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
  • 公开(公开)号:CN1885051
  • 公开(公开)日:2006.12.27
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 多样品霍尔效应测试设备
申请号 CN200610027355.5 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN1885051 公开(授权)日 2006.12.27
申请(专利权)人 中国科学院上海技术物理研究所 发明(设计)人 杨晓阳;陈新禹;林杏潮;陆荣;邵秀华;张莉萍
主分类号 G01R31/26(2006.01) IPC主分类号 G01R31/26(2006.01);G01R31/00(2006.01);G01R33/12(2006.01)
专利有效期 多样品霍尔效应测试设备 至多样品霍尔效应测试设备 法律状态 授权
说明书摘要 一种基于多样品霍尔效应测试设备,系为多片样 片霍尔效应测试设备,主要应用于批量半导体材料电学输运性 能的测试。该设备主要由一个主系统和一个从系统及一只PC 机组成。主系统主要负责测试信号的产生和接收,测试过程中 被测样品的自动切换;从系统主要负责提供测试平台和测试磁 场。设备电学参数的测量,并将测试结果显示在测试面板上。 本设备的最大的优点是可以实现多片样品的连续测量,以及对 于磁场的精确控制,从而提高了测试效率和测试精度。另外可 以实现半导体材料测试电极的I-V曲线测试,变磁场霍尔效 应测试,以及电子数据的存储,从而自动完成批量被测样品的 测试及测试结果记录的整个过程。

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