专利详情

专利名称	全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统
申请号	CN200610028629.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1877305	公开（授权）日	2006.12.13
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	步鹏;王向朝
主分类号	G01N21/45(2006.01)	IPC主分类号	G01N21/45(2006.01);A61B5/00(2006.01)
专利有效期	全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统至全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统，方法是利用正弦相位调制方法重建低相干光频域干涉信号的复振幅量，然后对该复振幅信号作逆傅立叶变换得到被测物体的层析图，以消除频域光学相干层析成像中存在的复共轭镜像、直流背景和自相干噪声三种寄生像，达到扩大频域光学相干层析成像的成像深度为原来的2倍，实现全深度探测的频域光学相干层析成像的目的。本发明与现有技术相比具有抗环境干扰能力强，对光源波长无关和系统结构简单的优点。