专利详情

专利名称	一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用
申请号	CN201210513787.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102980903A	公开（授权）日	2013.03.20
申请（专利权）人	中国科学院上海硅酸盐研究所	发明（设计）人	郭向欣;赵宁;崔忠慧
主分类号	G01N23/20(2006.01)I	IPC主分类号	G01N23/20(2006.01)I;G01N23/02(2006.01)I
专利有效期	一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用至一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用。所述装置包括组件A和组件B，所述组件A包括不锈钢板a、Be玻璃窗a和绝缘板，所述不锈钢板a和绝缘板上均设有通孔，所述Be玻璃窗a位于不锈钢板a与绝缘板之间的通孔处，且通过固定不锈钢板a和绝缘板使Be玻璃窗a固定于其间；所述组件B包括不锈钢板b和Be玻璃窗b，所述不锈钢板b上设有通孔，所述Be玻璃窗b通过固定件绝缘固定在不锈钢板b的通孔内；且所述组件A与组件B间固定连接。本发明装置可实现X射线透射式或反射式进行原位或非原位测定电极材料的同步辐射X射线衍射数据，且可重复利用，具有极大的应用价值。