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长工作距干涉显微镜系统

  • 申请号:CN200610082957.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院力学研究所
  • 公开(公开)号:CN1862219
  • 公开(公开)日:2006.11.15
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 长工作距干涉显微镜系统
申请号 CN200610082957.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN1862219 公开(授权)日 2006.11.15
申请(专利权)人 中国科学院力学研究所 发明(设计)人 段俐;康琦;胡良;阿燕;于泳
主分类号 G01B9/04(2006.01) IPC主分类号 G01B9/04(2006.01);G02B21/00(2006.01)
专利有效期 长工作距干涉显微镜系统 至长工作距干涉显微镜系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种长工作距干涉显微镜系统,包 括:起偏器、分束器、长工作距显微镜和由两个光轴互相垂直 的双折射直角棱镜粘合而成的渥拉斯顿棱镜,光源经过所述起 偏器形成线偏振光,并经所述分束器反射后再通过所述渥拉斯 顿棱镜,将入射线偏振光分成两束具有微小夹角并且振动方向 互相垂直的线偏振光,该两束光投射到被测量样品上,从被测 量样品表面反射回的两束正交线偏振光经原路返回,由所述渥 拉斯顿棱镜重新复合共线,并经过一四分之一波片形成椭圆偏 振光,再经过一检偏器后形成偏振方向相同的线偏振光。本发 明对机械振动、空气扰动、以及温度变化等外界环境不敏感, 其垂直测量分辨率达到50个纳米量级,具有50mm以上的工 作距离。

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