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一种实时检测单光子偏振量子态的装置与方法

  • 申请号:CN201010565062.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
  • 公开(公开)号:CN102080988A
  • 公开(公开)日:2011.06.01
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种实时检测单光子偏振量子态的装置与方法
申请号 CN201010565062.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102080988A 公开(授权)日 2011.06.01
申请(专利权)人 中国科学院上海技术物理研究所 发明(设计)人 狄慧鸽;王建宇;舒嵘;何志平
主分类号 G01J4/00(2006.01)I IPC主分类号 G01J4/00(2006.01)I
专利有效期 一种实时检测单光子偏振量子态的装置与方法 至一种实时检测单光子偏振量子态的装置与方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种实时测量单光子光束偏振状态的测试装置及方法,该装置包括测试系统和定标系统两部分。该测试装置利用能量分光镜和相位分光镜将被测光束分为四束,分别由四个单光子探测器对输入信号进行探测。利用定标装置获取系统的最优仪器矩阵;在测试时根据仪器矩阵和测试信号能得到被测信号的斯托克斯矢量。本发明的优点是:系统中无转动部件,测试速度快;测试系统充分的利用了被测试光束的能量,可用于单光子或极微弱光束的偏振状态检测;系统中有可变相位补偿器,能获取最优的系统仪器矩阵,测试精度高,结果可靠。

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