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一种利用激光对准晶片晶向的方法及装置

  • 申请号:CN200510063365.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN1845296
  • 公开(公开)日:2006.10.11
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种利用激光对准晶片晶向的方法及装置
申请号 CN200510063365.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN1845296 公开(授权)日 2006.10.11
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 陈良惠;郑婉华;杨国华;何国荣;王玉平;曹青;郭良;林学春
主分类号 H01L21/00(2006.01) IPC主分类号 H01L21/00(2006.01);B23K26/00(2006.01)
专利有效期 一种利用激光对准晶片晶向的方法及装置 至一种利用激光对准晶片晶向的方法及装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种利用激光对准晶片晶向的方法 及装置。本发明利用一束激光通过一小孔光阑入射到晶片的解 理面上,调整晶片的方位,使得入射到该晶片解理面上的激光 沿与入射方向相反的方向反射,反射激光从小孔光阑返回;按 同样的方法调节好另一块晶片后,使其中一晶片缓慢平移到另 一块晶片上,面对面靠紧,完成晶片晶向的对准。本发明提供 的利用激光对准晶片晶向的方法及装置结构简单,操作容易、 快速,且对准精度高,易于在工业上推广应用。

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