专利详情

专利名称	一种单通道多参数表面等离子体谐振测试仪
申请号	CN200510053510.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1831527	公开（授权）日	2006.09.13
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	崔大付;王军波;蔡浩原;王于杰
主分类号	G01N27/62(2006.01)	IPC主分类号	G01N27/62(2006.01);G01N27/00(2006.01);G01N29/00(2006.01);G01N21/00(2006.01);G01H3/00(2006.01)
专利有效期	一种单通道多参数表面等离子体谐振测试仪至一种单通道多参数表面等离子体谐振测试仪	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明一种单通道多参数表面等离子体谐振 (SPR)测试仪属于测试仪器技术领域。该测试仪，包括控制系统、光学系统、机械扫描系统、流通系统及表面等离子体谐振芯片、信号采集处理软件和系统操作控制软件等部分，构成完整的表面等离子体谐振测试系统，其中，机械扫描系统实现角度调制，进行角度和光强信号检测；采用两单元或多单元表面等离子体谐振芯片，待测样品经单通道流过芯片时，可给出对应的双参数或多参数检测结果。本发明的测试仪结构简单，操作简便，可设定参比单元检测或多参数自动化测试，测试数据可靠、精确。