
计算全息多点瞬时定位多自由度成像光学系统光校技术
- 申请号:CN201210142495.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号:CN102759796A
- 公开(公开)日:2012.10.31
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 计算全息多点瞬时定位多自由度成像光学系统光校技术 | ||
申请号 | CN201210142495.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102759796A | 公开(授权)日 | 2012.10.31 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 于清华;孙胜利;段东;曲荣生;陈凡胜;李欣耀;肖金才;王宝勇;金钢;杨林;陆强 |
主分类号 | G02B27/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B27/00(2006.01)I;G03H1/22(2006.01)I |
专利有效期 | 计算全息多点瞬时定位多自由度成像光学系统光校技术 至计算全息多点瞬时定位多自由度成像光学系统光校技术 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种计算全息多点瞬时定位多自由度成像光学系统光校技术,它依据待装校成像光学系统各光学元件和机械基准的定位需要,设计全息图像,使光束经计算全息图像衍射成像,形成‘标记’像的集合,该‘标记’像对应待装校成像光学系统的光学元件和机械组部件的基准,‘标记’像空间相对位置对应待装校成像光学系统的光学元件和机械组部件的基准的空间相对位置,该‘标记’像的集合构成待装校光学系统的‘立体图’。成像光学系统装校过程中,将待装校成像光学系统的各光学元件和机械组部的基准与对应的‘标记’像对准,从而完成成像光学系统的粗调,使待装校成像光学系统进入干涉图阶段,之后,利用计算机辅助像差解耦技术完成精调。 |
交易流程
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专利 -
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