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电化学原位膜导电性测量仪

  • 申请号:CN200510119013.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院长春应用化学研究所
  • 公开(公开)号:CN1808156
  • 公开(公开)日:2006.07.26
  • 法律状态:专利申请权、专利权的转移
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 电化学原位膜导电性测量仪
申请号 CN200510119013.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN1808156 公开(授权)日 2006.07.26
申请(专利权)人 中国科学院长春应用化学研究所 发明(设计)人 牛利;张齐贤;冯云祥;由天艳;杨贵福
主分类号 G01R31/00(2006.01) IPC主分类号 G01R31/00(2006.01)
专利有效期 电化学原位膜导电性测量仪 至电化学原位膜导电性测量仪 法律状态 专利申请权、专利权的转移
说明书摘要 本发明涉及一种原位电化学膜导电性测量仪,是 由上位机单元S、下位机单元X、电流测量单元L和电导测量 单元D四个单元组成;上位机单元X是一台计算机,存储和 运行本发明的软件程序;下位机单元X控制电流测量单元L 和电导测量单元D;本发明集成了传统的电化学工作站的技术 优点,同时分别使用可选择设置的直流和交流偏转电位的方 法,可以在电化学信号采集的同时,可以实时的测量膜的导电 性的变化;引入最新的USB2.0控制技术具有采集速率高,输 出功率大等特点;内置波形表,可以十分方便的定制任意电位 波形的输出,有基于微软视窗XP系统平台的XP风格控制采 集软件系统。

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