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基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方法及装置

  • 申请号:CN200610023133.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
  • 公开(公开)号:CN1804591
  • 公开(公开)日:2006.07.19
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方法及装置
申请号 CN200610023133.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN1804591 公开(授权)日 2006.07.19
申请(专利权)人 中国科学院上海技术物理研究所 发明(设计)人 邵军;陆卫;吕翔;越方禹;郭少令;李志锋;褚君浩
主分类号 G01N21/64(2006.01) IPC主分类号 G01N21/64(2006.01);G01N21/88(2006.01)
专利有效期 基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方法及装置 至基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方法及装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方 法及装置,该装置包括傅立叶变换红外光谱测量系统、作为激 发光源的激光器、以及联结傅立叶变换红外光谱仪中探测器与 电路控制板的锁相放大器、置于样品与激光器之间光路上的斩 波器,从而使连续激发光变为调制激发光,并馈入锁相放大器 的输入参考端来控制锁相。该方法使用上述装置进行红外调制 光致发光谱测量,包括消除室温背景辐射;消除傅立叶频率和 增强中、远红外波段光致发光微弱信号的探测能力三个功能。 经过对低x组分Hg1- xCdxTe材料光致 发光谱的测试,表明:本发明显著提高探测灵敏度和光谱信噪 比,并具有快速、便捷的优点,特别适用于中、远红外光电材 料微弱光致发光特性的检测。

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